Transferring Innovation ™

Karakterisasi & Analisa XRD

 

diffraction3

XRD merupakan alat yang digunakan untuk mengkarakterisasi struktur kristal, ukuran kristal dari suatu bahan padat. Semua bahan yang mengandung kristal tertentu ketika dianalisa menggunakan XRD akan memunculkan puncak – puncak yang spesifik. Sehingga kelemahan alat ini tidak dapat untuk mengkarakterisasi bahan yang bersifat amorf.

Metode difraksi umumnya digunakan untuk mengidentifikasi senyawa yang belum diketahui yang terkandung dalam suatu padatan dengan cara membandingkan dengan data difraksi dengan database yang dikeluarkan oleh International Centre for Diffraction Data berupa PDF Powder Diffraction File (PDF).

 

Tujuan
Setelah mengikuti workshop ini, peserta akan memahami proses difraksi X-Ray, persiapan sample, memahami metode Rietveld Analysis, dan analisas data secara kualitatif dan kuantitatif.

 

Pokok Pembahasan

1. Karakteristik X-Rays: Produksi, sifat, dan interaksi dengan material.

2. Komponen Pola Difraksi: Indeks Miller, Space Groups and Symmetry Element, Faktor Yang mempengaruhi intensitas pola diffrasi dan pergeseran posisi difraksi.

3. Akuisisi data difraksi yang baik: Persiapan specimen, Teknik persiapan specimen, operasional difraktometer yang baik.

4. Pebedaan Difraksi sample: Polycrystalline, Polymer, etc.

5. Identifikasi fasa secara kualitatif dan kuantitatif.

6. Demonstrasi Software untuk analisa Powder Diffraction dengan metode Rietveld Refinement.

 

Metode

Kegiatan pelatihan dirancang agar peserta dapat memahami secara komprehensif materi yang disampaikan, sehingga dapat dimplementasikan secara aplikatif dalam dunia kerja. Adapun metode yang digunakan adalah:
1. Presentation
2. Discuss
3. Case Study
4. Evaluation

 

Lama Training

2 Hari